关键词:电阻规格书、典型值、性能特性、制造商、尺寸
在电子元件领域,电阻规格书是设计工程师不可或缺的重要参考资料。然而,其中关于典型值的部分常常令工程师们感到困惑。本文将深入探讨电阻规格书中典型值的含义以及相关要点,帮助读者更好地理解这一概念。
本文作者为 Kory Schroeder,其职位是 SEI Stackpole Electronics, inc. 的市场与产品工程总监,邮箱为kschroeder@seielect.com。
微方电子自 2010 年与典琦科技 SEI 签署授权代理协议,双方已共同成长为全球主要活跃合作的伙伴。微方电子一直致力于为客户提供优质的电子元件产品和服务。我们拥有专业的团队和丰富的行业经验,能够为客户提供准确的技术支持和解决方案。无论是在电阻产品还是其他电子元件领域,微方电子都将一如既往地为客户提供高品质的产品和服务,满足客户的各种需求。
电阻器的性能特性是多样的,在 “正常” 工作条件下,部分性能特性可以通过最小值和最大值来明确指定。但是,还有一些特性呈现出动态变化的特点。例如,规格书虽然会展示一定阻值范围内的性能特征,但某些特征在特定类型电阻器的标准电阻范围内会有较大幅度的变化,而且环境条件的改变也可能对其他特性产生显著影响。从成本效益的角度出发,要对所有不同阻值以及在各种不同条件下的性能进行严格测试和确保,这无疑是一项成本高昂且不切实际的任务。因此,制造商为了给用户提供一定的参考信息,会选择在数据表上给出 “典型” 值。这是一种在成本和信息提供之间寻求平衡的做法,毕竟有一些信息总比完全没有要好。
此外,在某些性能特征方面,还存在一种情况。即在大部分阻值范围内,性能表现可能较为相似,但当涉及到非常高或非常低的阻值时,性能可能会变差。这种现象在精密电阻器中表现得尤为明显。在这种情况下,“典型” 值对于常用阻值来说,更能贴近实际的效能情况,所以它具有一定的参考价值。
不同的制造商在对电阻器给定特性的标注方式上存在差异。有些制造商倾向于指定典型值或变异数,而另一些则会明确给出该特性的实际限制。当我们在比较不同制造商生产的类似电阻器零件时,了解这种差异是至关重要的。需要注意的是,制造商并不会对 “典型” 值做出保证。规格限值是通过对多个制造批次中具有统计意义的样本进行严格测试而制定的,并且会根据可靠性测试计划定期进行确认。这些规格限值明确了最大允许变化量,与 “典型” 值相比,通常具有更大的潜在变化范围。在实际情况中,很多制造商会同时在产品资料中显示 “典型” 值以及最大最小变化值,以便用户能够更全面地了解产品性能。
另外,适合应用的余裕程度会因为设计的设备类型以及最终产品的测试要求不同而有所差异。如果电阻器的某一特定参数对于最终产品的性能起着至关重要的作用,那么我们最好能够深入了解该参数的实际规格限制。相反,如果某一参数对于最终产品性能并非关键因素,那么即使该参数可能存在较大的变化,“典型” 值可能也已经足够满足我们的需求。
在电阻器的实体尺寸方面,有时也会用到典型值。这主要存在于以下两种情况:其一,如果零件的形状不规则,难以使用标准尺寸图表进行准确标示,那么就会采用典型值来描述。其二,如果零件的尺寸对于其自身的性能或者使用过程并没有重要影响,并且在制造过程中也不需要进行严格的管控,那么也会使用典型值。例如,表面贴装晶片式电阻器的顶部端电极就是一个很好的例子,其尺寸通常采用典型值来表示。
厚膜晶片式电阻器是电子行业中常见的一种电阻器类型。大多数电阻器制造商都会供应这种具有低成本和高产量特点的电阻器。对于厚膜晶片式电阻器的脉冲处理能力这一参数,制造商通常会提供仅供参考的 “典型” 单次脉冲功率特性图。这是因为该参数在制造过程中并没有受到严格的管控,激光修阻量的允许变化可能会导致在同一批次内以及不同批次之间的脉冲功率处理能力出现显著的变化。
在众多应用场景中,电阻器的脉冲功率处理能力并非是最终产品性能的关键参数。因此,这种因制造过程中未严格管控而产生的变化是完全可以被接受的。但是,在一些对脉冲功率处理能力要求极高的应用场景中,我们就必须要重视这一参数的变化情况。此时,我们需要向制造商询问关于该参数可能发生的更详细的变化信息,否则就需要考虑选择专门为脉冲处理能力而设计的替代产品。
以下是厚膜晶片式电阻器相关性能测试的详细信息:
Test | Typical Performance |
---|---|
Short Time Overload | 0.1% |
Load Life | 0.1% |
Temperature Cycle | 0.1% |
Moisture Resistance | 0.1% |
Shock | 0.05% |
Vibration | 0.05% |
Dielectric Withstanding Voltage | 0.05% |
Resistance to Soldering Heat | 0.05% |
Test | Test Method | Test Specification | Test Condition | |
---|---|---|---|---|
Tol.s0.05% | Tol.>0.05% | |||
Temperature coefficient of Resistance (T.C.R) | MIL - STD - 202 Method 304 | As specified. | +25 / -55 / +25 / +125 / +25°C | |
Short Time Overload | JIS - C - 5201 - 14.13 | AR0.05% AR 0.2% R0.2% for high power rating | RCWV * 2.5 or Max overload voltage whichever is lower for 5 seconds | |
Insulation Resistance | MIL - STD - 202 Method 302 | >9999M | Apply 100 Vpc for 1 minute | |
Endurance | MIL - STD - 202 Method 108A | R 0.05% | AR 0.2% | 70 2°C,RCWV for 1000 hours with 1.5hours"ON"and0.5hour"OFF" |
R0.5% for high power rating 0201≤7kQ:R0.2% 0201>7kQ:R 0.5% | ||||
Damp Heat with Load | MIL - STD - 202 Method 103B | AR0.05% AR 0.3% R0.5% for high power rating | 402C,90 ~ 95%RH.RCWV for 1000 ours with1.5hours"ON"and0.5hour"OFF" | |
Bending Strength | JIS - C - 5201 - 1 4.33 | AR0.05% AR 0.1% | Bending amplitude for 10 seconds 2010 and2512sizes:2mm Other sizes:3 mm | |
Solderability | MIL - STD - 202 Method 208H | 95%min.coverage | 2455Cfor3 seconds | |
Resistance to Soldering Heat | MIL - STD - 202 Method 210E | AR0.05% AR 0.1% | 260 5°Cfor 10 seconds | |
Dielectric Withstand Voltage | MIL - STD - 202 Method 301 | by type | Max overload voltage for 1 minute | |
Low Temperature Operation | JIS - C - 5201 - 1 4.36 | AR0.05% AR 0.2% R0.5% for high power rating | 1 hour,-65°C,followed by 45minutes of RCWV | |
High Temperature Exposure | MIL - STD - 202 Method108 | AR0.5% | +155°Cfor1000 hours |
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